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SN74ABTH18652APM
- Description :
- IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
- Forfait :
- 64-LQFP (10x10)
- Cette partie est conforme à RoHS
- Fiche technique (1)
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- Logic Type :
- Scan Test Device With Transceivers And Registers
- Mounting Type :
- Surface Mount
- Number of Bits :
- 18
- Operating Temperature :
- -40°C ~ 85°C
- Package / Case :
- 64-LQFP
- Packaging :
- Tray
- Series :
- 74ABTH
- Supplier Device Package :
- 64-LQFP (10x10)
- Supply Voltage :
- 4.5 V ~ 5.5 V
