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		Image	Numéro de pièce	Fabricant	Quantité	Délai de livraison	Prix unitaire	Acheter	Description
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			SN74BCT8240ADWR	Texas Instruments	Enquête	-	-	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC MOQ: 2000 MPQ: 1	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
			SN74BCT8240ADWRE4	Texas Instruments	Enquête	-	-	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC MOQ: 2000 MPQ: 1	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
			SN74BCT8240ADWRG4	Texas Instruments	Enquête	-	-	IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC MOQ: 2000 MPQ: 1	IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

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