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Image | Numéro de pièce | Fabricant | Quantité | Délai de livraison | Prix unitaire | Acheter | Description | Package / Case | Supplier Device Package | Mounting Type | ||
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Image | Numéro de pièce | Fabricant | Quantité | Délai de livraison | Prix unitaire | Acheter | Description | Package / Case | Supplier Device Package | Mounting Type | ||
Texas Instruments |
10
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3 jours |
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MOQ: 1 MPQ: 1
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IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
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24-SOIC (0.295",7.50mm Width) | 24-SOIC | Surface Mount | ||||
Texas Instruments |
Enquête
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MOQ: 60 MPQ: 1
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IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
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24-DIP (0.300",7.62mm) | 24-PDIP | Through Hole | ||||
Texas Instruments |
Enquête
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MOQ: 60 MPQ: 1
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IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
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24-DIP (0.300",7.62mm) | 24-PDIP | Through Hole |