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Image	Numéro de pièce	Fabricant	Quantité	Délai de livraison	Prix unitaire	Acheter	Description	Packaging
Image	Numéro de pièce	Fabricant	Quantité	Délai de livraison	Prix unitaire	Acheter	Description	Packaging
	SN74BCT8240ADW	Texas Instruments	Enquête	-	-	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC MOQ: 75 MPQ: 1	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC	Tube
	SN74BCT8240ADWR	Texas Instruments	Enquête	-	-	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC MOQ: 2000 MPQ: 1	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC	Tape & Reel (TR)
	SN74BCT8240ADWRE4	Texas Instruments	Enquête	-	-	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC MOQ: 2000 MPQ: 1	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC	Tape & Reel (TR)
	SN74BCT8240ADWRG4	Texas Instruments	Enquête	-	-	IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC MOQ: 2000 MPQ: 1	IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC	Tape & Reel (TR)

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