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		Image	Numéro de pièce	Fabricant	Quantité	Délai de livraison	Prix unitaire	Acheter	Description	Package / Case	Supplier Device Package	Mounting Type
		Image	Numéro de pièce	Fabricant	Quantité	Délai de livraison	Prix unitaire	Acheter	Description	Package / Case	Supplier Device Package	Mounting Type
			SN74BCT8244ADW	Texas Instruments	736	3 jours	-	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC MOQ: 1 MPQ: 1	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC	24-SOIC (0.295"，7.50mm Width)	24-SOIC	Surface Mount
			SN74BCT8244ADWE4	Texas Instruments	Enquête	-	-	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC MOQ: 50 MPQ: 1	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC	24-SOIC (0.295"，7.50mm Width)	24-SOIC	Surface Mount
			SN74BCT8244ANT	Texas Instruments	Enquête	-	-	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP MOQ: 60 MPQ: 1	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP	24-DIP (0.300"，7.62mm)	24-PDIP	Through Hole
			SN74BCT8244ANTG4	Texas Instruments	Enquête	-	-	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP MOQ: 60 MPQ: 1	IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP	24-DIP (0.300"，7.62mm)	24-PDIP	Through Hole

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